检测范围
　　绿碳化硅，黑碳化硅，碳化硅微粉，碳化硅砖，碳化硅板，碳化硅半导体，铝基碳化硅，碳化硅球，陶瓷碳化硅等。
　　检测项目
　　粒径检测，游离碳检测，含量检测，游离硅检测，折射率检测，三氧化二铁，纯度检测，成分检测等。
　　检测标准
　　GB/T 2480-2008普通磨料 碳化硅
　　GB/T 3045-2017普通磨料 碳化硅化学分析方法
　　GB/T 16555-2017含碳、碳化硅、氮化物耐火材料化学分析方法
　　GB/T 30656-2014碳化硅单晶抛光片
　　GB/T 30866-2014碳化硅单晶片直径测试方法
　　GB/T 30867-2014碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
　　GB/T 30868-2014碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法
　　GB/T 31351-2014碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法
　　GB/T 32278-2015碳化硅单晶片平整度测试方法
　　GB/T 32978-2016碳化硅质高温陶瓷过滤元件
　　GB/T 37254-2018高纯碳化硅 微量元素的测定
　　

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